Breitband Quartz-Wellenplatten

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Artikel-Nr.: OSE-WPQW-VIS-2M

λ/4-Retarder wandeln linear polarisierte Strahlen in zirkulare und zirkulare in lineare um. λ/2-Retarder wandeln die Polarisationsrichtung beliebig um.

Wellenlängenbereich in nm

Phasenunterschied (1064 nm)

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Phasenunterschied (1064 nm)

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Beschreibung

Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung (4 Oberflächen)
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 14×14mm
Wellenfrontdeformation: λ/4 (per one surface)

Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 400 - 700
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 4
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung (4 Oberflächen)
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 14×14mm
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm λ=400nm: 184.6
Theoretische Verzögerung in nm λ=500nm: 259
Theoretische Verzögerung in nm λ=600nm: 300.3
Theoretische Verzögerung in nm λ=700nm: 328.9
Wellenfrontdeformation: λ/4 (per one surface)

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 400 - 700
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 4
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung (4 Oberflächen)
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 14×14
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm λ=400nm: 92.8
Theoretische Verzögerung in nm λ=500nm: 130
Theoretische Verzögerung in nm λ=600nm: 150.6
Theoretische Verzögerung in nm λ=700nm: 164.9
Wellenfrontdeformation: λ/4 (per one surface)

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OSE-WPQW-VIS-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 650 - 780
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 7
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung (4 Oberflächen)
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 14×14
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm λ=650nm: 325.3
Theoretische Verzögerung in nm λ=700nm: 352.7
Theoretische Verzögerung in nm λ=750nm: 376.9
Theoretische Verzögerung in nm λ=800nm: 398.8
Wellenfrontdeformation: λ/4 (per one surface)

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OSE-WPQW-65_78-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 650 - 780
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 7
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung (4 Oberflächen)
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 14×14
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm λ=650nm: 162.2
Theoretische Verzögerung in nm λ=700nm: 175.9
Theoretische Verzögerung in nm λ=750nm: 188
Theoretische Verzögerung in nm λ=800nm: 198.9
Wellenfrontdeformation: λ/4 (per one surface)

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OSE-WPQW-65_78-4M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 700 - 1000
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 7
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung (4 Oberflächen)
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 14×14
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm λ=700nm: 344.8
Theoretische Verzögerung in nm λ=800nm: 402
Theoretische Verzögerung in nm λ=900nm: 450.4
Theoretische Verzögerung in nm λ=1000nm: 494.4
Wellenfrontdeformation: λ/4 (per one surface)

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OSE-WPQW-NIR-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 700 - 1000
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 7
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung (4 Oberflächen)
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 14×14
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm λ=700nm: 172.4
Theoretische Verzögerung in nm λ=800nm: 201
Theoretische Verzögerung in nm λ=900nm: 225.2
Theoretische Verzögerung in nm λ=1000nm: 247.2
Wellenfrontdeformation: λ/4 (per one surface)

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1000 - 1600
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 7
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung (4 Oberflächen)
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 14×14
Typ: λ/2
Theoretische Verzögerung in nm λ=1000nm: 510.2
Theoretische Verzögerung in nm λ=1200nm: 595.4
Theoretische Verzögerung in nm λ=1400nm: 696.3
Theoretische Verzögerung in nm λ=1600nm: 814.3
Wellenfrontdeformation: λ/4 (per one surface)

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OSE-WPQW-IR-2M_STP.zip

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Art: Wellenplatten
Wellenlängenbereich in nm: 1000 - 1600
Material: Kristalliner Quarz, MgF2
Rahmenmaterial: Aluminiumveredelung: schwarz eloxiert
Durchlässigkeitsgrad in %: 98
Laserzerstörschwelle in J/cm² : 7
Winkelabweichung des Strahls: <5
Beschichtung: Beide Oberflächen: schmalbandige mehrlagige Antireflexbeschichtung (4 Oberflächen)
Oberflächenqualität (Scratch - Dig): 20-10
Freie Apertur in mm: 14×14
Typ: λ/4
Theoretische Verzögerung in nm λ=1000nm: 255.1
Theoretische Verzögerung in nm λ=1200nm: 297.7
Theoretische Verzögerung in nm λ=1400nm: 348.1
Theoretische Verzögerung in nm λ=1600nm: 407.1
Wellenfrontdeformation: λ/4 (per one surface)