Keilförmige Substrate, SiO2

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Artikel-Nr.: OSE-WSSQ-30C05-20-0.5

Diese keilförmigen Substrate können den reflektierten Strahl durch die vordere und hintere Oberfläche der Substrate durch den leichten Keilwinkel trennen. Werkstoff: SiO2.

Keilwinkel in °
Oberflächenebenheit
Durchmesser in mm
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Beschreibung

  • Material: Quarzglas
  • Freie Apertur: 90% des tatsächlichen Durchmessers
  • Einfallswinkel: 0.5°±5´
  • Keilwinkel W: 0.5°±5´